近年來隨著光通信的高速發展，市場上圍繞著光通信的光器件種類眾多、加上產品迭代快，所以對測量儀的要求更高。而在新興平面光波導和硅光芯片領域，其對儀表測量的精確性、穩定性和操作便利性等各方面提出了嚴峻的挑戰，由此東隆科技經過多年的技術研發并攻克以上眾多難題，于去年成功發布了國產多功能光矢量分析儀（OCI-V）。

光矢量分析儀（OCI-V）是一款快速檢測光學器件損耗、色散和偏振等相關參數的光矢量分析儀。其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描，并結合相干檢測技術獲取待測器件的瓊斯矩陣，進而獲得器件插損、色散、偏振相關損耗、偏振模色散等光學參數。該產品采用*的光路設計以及先進算法，實現智能校準，操作簡單，極大節省測試時間。

光矢量分析儀（OCI-V）一經推出就受到目標用戶的好評，同時也不斷吸納市場反饋意見，專注設備創新升級，不斷優化設備性能，以提供給客戶更優質的產品。

而作為國產業內的先驅者企業東隆科技自研的光矢量分析儀于近日推出損耗80dB高動態范圍測試選項。如下圖所示：

圖2.80dB動態范圍

• 自校準

• 測量長度：200m

• 波段：C+L、O波段（可選）

• 1秒內測量多種光學參數

• 平面波導器件

• 硅光器件

• 光纖器件

• 波長可調器件、放大器、濾波器

• 偏振相關損耗PDL

• 偏振模色散PMD

• 插損IL

• 群延時GD

• 色散CD

• 瓊斯矩陣參數

• 光學相位

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